ResueltaEstatalFondos UEExp. S-AB/2025/000185

Suministro e Instalación de un Sistema de Haz Dual para preparación de Lamellas (FIB) en la ICTS Centro Nacional de Microscopia de la Universidad Complutense de Madrid.

Cómo se adjudica

El reparto de puntos decide si compite el precio o la memoria técnica.

77% automático · precio y fórmulas23% juicio de valor

51%PRECIO
5%Extensión del plazo de garantía
5%Licencias infinitas del procesado del sistema EDX
5%Sistema de limpieza por plasma acoplado a la cámara
5%Detector extra (adicional a los detectores en el PPT) en cámara
5%Grado de automatización del proceso de fabricación de lamella
4%Grado de integración de todos los elementos del suministro dentro del software de control del FIB
3%Presencia de sistemas de compensación de la carga durante el uso del haz de iones
3%Versatilidad del equipo en cuanto a que permita registrar imágenes SEM y STEM en tiempo real
2%Capacidad del equipo para soldar la lamella a la rejilla sin necesidad de usar deposición de ningún tipo
2%Versatilidad del detector STEM atendiendo especialmente al número de sectores y los modos de toma de imagen en STEM
2%Sistema de afilado de la punta que esté totalmente integrado en el software
2%Se valorará si permite la captura de imágenes con resolución al menos de 65kx65k
2%Disponer de Software de programación mediante Python
2%Versatilidad en cuanto al número de segmentos y la composición de señales del detector BSE en cámara
2%Versatilidad del portamuestras, teniendo en cuenta el número de posiciones disponibles

Los pliegos administrativo y técnico van primero.